Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

Detail Cantuman Kembali

XML

Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

Pernyataan Tanggungjawab

Pengarang

Mario Birkholz - Personal Name

Edisi

No. Panggil

ISBN/ISSN

3-527-31052-5

Subyek

Klasifikasi

621.381

Judul Seri

GMD

Buku

Bahasa

Bahasa Indonesia

Penerbit

Weinheim : WILEY - VCH Verlag GmbH & Co. KGaA

Tahun Terbit

2006

Tempat Terbit

Deskripsi Fisik

xxii, 356 p. : ils. ; 25 cm

Info Detil Spesifik

Lampiran Berkas

LOADING LIST...

Ketersediaan

LOADING LIST...